USE OF GAS VOID FRACTION MEASUREMENT IN THE CLOSED LOOP CONTROL OF A FERMENTATION PROCESS
세계지적지산권기구(WIPO)
G01N
PCT/US2010/024255
2010-02-16
2010094018
2010-08-19
CIDRA CORPORATE SERVICES INC.; BIESAK, John
http://link.kipris.or.kr/link/main/sharePage_KR.jsp?reg_key=Gtp/a4Q33TBI6FT4yw3AsA%3D%3D&APPLNO=PCT/US2010/024255&CNTRY=WO&PUBLKEY=WO201000094018A1
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특허; 2023-12-11