본 실시예들은 방사선 빔이 켜진 시간에 스트립의 상태를 유지하는 시간을 매칭하고, 방사선 빔이 꺼진 시간에 스트립의 상태를 변환하는 시간 및 지연시간을 매칭하고, 방사선을 차단하여 획득한 제1 프로젝션 데이터 및 방사선을 통과시켜 획득한 제2 프로젝션 데이터에 관한 산란 맵을 추정함으로써, 한 번의 스캔으로 X선 영상에서 X선 산란 현상을 정확하게 제거하면서도 불필요한 사전 절차를 제거하여 보다 빠르게 산란 현상이 제거된 X선 영상을 획득할 수 있는 콘빔 전산화 단층 촬영 시스템을 제공한다.