초록
본 발명은 와전류를 이용하여 전지셀 내부의 균열(Crack)을 검출하는 장치로서, 와전류를 유도하는 제 1 센서 및 상기 제 1 센서에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 제 2 센서를 포함하고, 전지셀이 주행하는 동안에 와전류에 의한 검사를 수행하는 검사부; 전지셀이 투입되는 지점부터 반출되는 지점까지, 복수의 전지셀을 순차적으로 이송하는 이송부; 및 상기 검사부와 전기적으로 연결되며, 상기 검사부에 의해 감지된 와전류 신호를 수신하여 평가하고 제어하는 제어부; 를 포함하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치이다. 본 발명의 전지셀 내부의 균열 검출 장치는 비파괴적 방법으로, 전극, 전극 탭, 용접부 상에 발생한 균열의 유무와 위치를 검출할 수 있다.