반도체 테스트 보드 및 반도체 보드
대한민국
본 발명은 반도체 테스트 보드에 관한 것이다. 본 발명의 반도체 테스트 보드는 전원 소스로부터 공통으로 전원을 공급받고 온도에 따라 변화하는 저항값을 갖는 제 1 온도 저항 소자와 제 2 온도 저항 소자, 제 1 온도 저항 소자를 통해 전원을 공급받고 테스트될 반도체 패키지가 실장되는 제 1 칩 실장부, 그리고 제 2 온도 저항 소자를 통해 전원을 공급받고 테스트될 반도체 패키지가 실장되는 제 2 칩 실장부로 구성된다.
G01R
1020110125072
2011-11-28
1020130059003
2013-06-05
삼성전자주식회사
10.8080/1020110125072
https://doi.or.kr/10.8080/1020110125072
https://plus.kipris.or.kr/kiprisplusws/fileToss.jsp?arg=d8ed8dd5b70e0b90dcfe8daca075789a6daa87041b0012576a8cded08291b5dd8721570d4226365d204d6469aa4ae242c5dee4411ace44c4f076805b064574853e2c2f4402bb941b
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특허; 2023-12-11